020-PathWave Electrical Performance Scan (EP-Scan) 2023 聚看点

(资料图片仅供参考)

PathWave电气性能扫描（EP扫描）2023 | 828.1 mb

Keysight Technologies，Inc.是一家领先的技术公司，提供先进的设计和验证解决方案，帮助加快创新，以连接和保护世界。该公司推出了Electrical Performance Scan（EP-Scan）2023，这是一款新的高速数字仿真工具，支持硬件工程师和印刷电路板（PCB）设计师进行快速信号完整性（SI）分析。

Keysight为硬件工程师推出信号完整性仿真软件

在完成PCB设计后，硬件工程师将设计移交给SI专家，以在进行原型之前验证其性能。SI专家对大量网络进行模拟，这可能需要几天到几周的时间才能完成。因此，硬件工程师很难预测在设计中发现错误或性能问题所需的分析时间。SI分析阶段长度的不确定性会在设计周期中造成瓶颈，并延迟上市时间。

EP Scan通过为硬件设计人员提供诊断工具来解决SI分析瓶颈，从而更早地纠正设计并满足开发计划。作为一个独立的软件产品，EP Scan对信号网络执行电磁（EM）模拟，并报告SI度量，如信道返回和插入损耗。此外，EP Scan可以自动进行不同版本设计之间的性能比较，并生成模拟报告，在构建昂贵的物理原型之前加快验证。

EP扫描只需要PCB设计的布局几何形状和基板堆叠信息作为输入。在工程师指定所需的网络进行研究后，EP Scan会报告模拟结果，包括迹线的特性阻抗和延迟、回波损耗、插入损耗和阻抗时域反射计（TDR）。通过分析ODB++等常见的制造格式，EP Scan向工程师展示了他们在制造时的设计性能。EP Scan使硬件工程师能够在最终验证之前快速验证设计并识别布局问题，这减少了上市时间，并有助于赢得更多的PCB设计胜利。

我用夸克网盘分享了「020-PathWave Electrical Performance Scan (EP-Scan) 2023.txt」，点击链接即可保存。打开「夸克APP」在线查看，支持多种文档格式转换。

链接：https://pan.quark.cn/s/6a2f3c5707dc

关键词：